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徠卡顯微系統（上海）貿易有限公司《徠卡電鏡制樣產品資料_Leica EM TIC 3X離子研磨儀_樣本、參數、價格、應用案例、配置對比等》產品樣本，共計18頁，8.58MB，PDF格式。

Leica EM TIC 3X 三離子束研磨儀：配置靈活、制作結果優良、高通量
您是否需要制備硬的、軟的、多孔、熱敏感、脆性和/或非均質多相復合型材料，獲得高質量樣品表面，以適宜于掃描電子顯微鏡（SEM）分析和原子顯微鏡（AFM）檢測？Lecia EM TIC 3X采用的寬場離子束研磨系統非常適合能譜分析EDS，破譜分析WDS，俄歇分析Auger，背散射電子衍射分析EBSD。離子束研磨技術試用于多種多樣材質樣品，獲得高質量切割界面或拋光平面的解決方案。使用該技術對樣品進行處理，樣品收到形變或損傷的可能性低，可暴露樣品內部真實的結構信息。
徠卡 EM TIC 3X 可以靈活選擇多種樣品臺，不僅試用于高通量試驗，也適合于特定制樣需求實驗室。依據您具體需求，每一臺徠卡 EM TIC 3X 都可裝配多種可切換樣品臺，如標準樣品臺，三樣品臺，旋轉樣品臺或冷凍樣品臺，應用于常規樣品制備，高通量樣品制備，以及某些高分子聚合物，橡膠或生物材料等溫度敏感樣品制備。其于徠卡 EM VCT 環境傳輸系統連接，可以實現將冷凍的生物樣品表面受保護地被真空冷凍傳輸入鍍膜儀或冷凍掃描電鏡（Cryo-SEM）中，或應用于地質或工業材料樣品，實現真空傳輸。

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